福利三分彩人工计划:高溫反偏試驗臺

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品牌: 天光測控
測量范圍: 0-5200V DC
測量精度: 誤差<0.4%
電流范圍: ICES(IDSS) 1μA~10mA
單價: 2000.00元/臺
起訂: 1 臺
供貨總量: 100 臺
發貨期限: 自買家付款之日起 7 天內發貨
所在地: 陜西省 西安市
有效期至: 長期有效
最后更新: 2019-05-22 15:45
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詢價
公司基本資料信息
 
 
產品詳細說明

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產品系列
晶體管圖示儀
半導體分立器件測試篩選系統
靜態測試(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)
動態測試(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)
環境老化測試(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)
熱特性測試(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)
可測試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件

ST-HTXB_X   功率器件環境老化試驗臺
可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的
HTRB(高溫反偏)、HTGB(高溫柵偏)、H3TRB(高溫高濕反偏)


♦產品簡述
      該試驗系統是依據 GB/T 29332-2012/IEC60747-9:2007 標準要求對器件測試,將柵極與發射極短接,在集電極與發射極間加上設定的直流電壓,同時檢測直流電壓與漏電流的值。測試需有傳感器直接檢測 IGBT ??榭俏?,并可通過軟件輸入??榻崢僑茸?,結合產生的耗散功率,當溫度與漏電流超過設定值后,切斷電源,給出警告信號。此設備是電力電子器件環境老化測試的重要檢測設備,用于驗證長期穩定情況下器件的漏電流。系統最大測試電壓5000V(可擴展至10KV)??梢允迪侄訧GBT器件集電極-發射極電壓Vce、集電極發射極電流Ices、殼溫Tc 、時間等各項參數的檢測,根據程序設定自動完成測試,記錄保存測試數據并且可以瀏覽和導出。
      測試夾具采用氣動控制單面加熱型。工作時通過溫控儀和其他控制系統設定溫度和時間,具備自動檢測溫度、超溫報警、超壓報警、過流?;ぜ鞍踩?、緊停等功能,異常時切斷主電源
♦產品簡述
 可以通過計算機設定試驗參數(Vce、Ices、Tc、時間、采樣周期)和監控參數(Vce、Ice、Tc、T,實時采集并記錄試驗過程中每個工位的溫度(Tc)、時間、電壓、漏電流等,并可隨時瀏覽數據。
 當被測器件失效時(Ices超限),系統能自動檢測、報警,并可及時切斷高壓電源(不需要中斷加熱),停止試驗,該失效點的詳細數據會被記錄下來,并記錄失效時間節點。
 試驗數據保存可以設定保存的時間間隔,設定時間范圍為:10s-600s,但當器件檢測失效時,可以自動保存失效前至少一個采樣時間周期的詳細數據,有助于對器件失效進行分析。
 該系統采用計算機記錄測試結果,并可以將測試結果轉換為“EXCEL”并保存。
 安全防護1:該設備具有超溫?;?、安全聯鎖等。
 安全防護2:配備獨立于溫控系統的干觸點超溫?;ぷ爸?,在電路的發熱位置配溫度傳感器,一旦有異常超溫現象,發出警報并自動切斷設備電源。
 安全防護3:設備操作門配有安全連鎖開關,操作面板配置急???,保證測試及設備維護時人員安全。
♦電氣原理圖
依據GB/T 29332-2012/IEC60747-9:2007 對器件進行測試。原理圖如下所示
      說明:將被測IGBT柵極與發射極短接,在集電極與發射極間加上設定的直流電壓,同時檢測直流電壓與漏電流的值,輸出給隔離板并反饋給計算機,來顯示實時的電壓和電流值。測試過程中有溫度傳感器直接檢測 IGBT ??榭俏?,通過模擬隔離板后反饋給計算機實時溫度。
      其中,被測兩端的電壓可以通過計算機程序控制輸出給高壓直流電源。漏電流和溫度的?;ぶ悼梢醞ü撲慊絳蟶瓚?,如達到設定?;ぶ?,設備控制系統?;?,并通過計算機程序主頁面下的故障顯示和面板?;ぶ甘鏡葡允?。
♦參數指標
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